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X射线荧光光谱仪

       国产ROHS分析仪EDX-S6000,配置高性能进口Si-PIN探测器,与最佳的垂直照射的光路系统和多组复合滤光片的组合,实现
  • 概述
  • 特性
  • 应用
  • 基本原理
  • 相关资料
  • 技术参数

       国产ROHS分析仪EDX-S6000,配置高性能进口Si-PIN探测器,与最佳的垂直照射的光路系统和多组复合滤光片的组合,实现了广范围的测试需求,高灵敏度的分析限。选配的SDD探测器能够实现从Na元素更低能量范围的测试要求。新型的Si-PIN探测器能量分辨率出色,可高达145ev,分析元素时减少了谱峰重叠带来的低能峰的物理干扰影响,提升了分析结果的准确可靠性;具有高速通道的脉冲分析器能够接收2万以上的数率的脉冲信息,增强了测试结果的重复可靠性;电子制冷无需担忧操作不慎带来的损害。

体验式的操作界面和简便的导航菜单


  从新视觉方面的思考设计的体验式的操作界面,从初级测试人员,到专业人员或高层品质管理者,都能得心应手的便捷操作,带来一种体验式的工作界面,更快捷,更简化。多种测试结果的输出格式,供应商物料的筛选统计,可视化的谱图缩放查看,明了的谱峰对比功能,常规的数据备份和的导入等等功能都可以满足在质量和品质部门对测试结果的判定便捷性。

  1.从软硬件的设计上带来的便捷

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2.软件功能的可操作性

 EDX-S6000光谱仪/应用

  电子电气环保RoHS指令,无卤等元素分析

  汽车机械ELV指令的有害元素检测分析

  贵金属行业中对人体有害微量元素的分析

  稀土行业中微量元素的分析

  环境土壤水等介质中行业的重金属元素检测分析

  钢铁有色冶金合金材料成分分析。

  电镀镀层厚度检测和成分检测。

1、发射光子:X光管发射高能初级射线光子撞击样本

2、撞击脱轨:这些初级光子含有足够的能量可以将最里层即K层或L层的电子撞击脱轨。

3、电子跃迁:原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定,外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。

4、荧光辐射:电子从外层进入内层的过程中,它们会释放能量。

5、探测分析:探测器探测到X荧光并转换为光谱

6、化学结果:计算及软件从光谱中计算化学结果


产品增值服务

  1.1.不同权限用户登录管理操作

  可以选择管理员和操作员两种权限用户登录,系统自动记录不同人员所测试过的样品情况,以便追溯。

  1.2.样品测试结果跟踪控件

  可以对测试的样品进行分类选择,例如供应商,种类,拆分号等信息,结果统计时选择不同的信息可以归类统计,以便跟踪同一供应商或者同一物料的长期状态。

  1.3.选配增加镀层厚度检测,确认供应商提交的镀层产品质量合格。

重要部件配置

  1.1.采用Si-Pin分辨率高达145ev进口探测器?梢匝∨126ev分辨率的SDD探测器。

  1.2.50kV1mA的激发电源,设计连续工作寿命5年以上。

  1.3.50KV1mA的X射线发生器,铍窗厚度200um,设计连续工作寿命15000小时以上。

  1.4.滤光系统为复合的5种滤光片组合,系统自动切换。

  1.5.准直器为3种规格配置:1mm,3mm,5mm。

仪器其他规格参数

  1.1.S6000改观尺寸:长宽高550×330×430mm;

  1.2.样品腔尺寸:长宽高435×245×145mm;

  1.3.S6000净重38kg;环境温度10-25℃;

  1.4.额定功率280W;

  1.5.样品支撑薄膜厚度6um;

  1.6.电脑控制连接方式USB

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